CUBE臺式掃描電鏡是現代固體材料顯微分析(微區成份、形貌和結構分析)的有用儀器,應用十分廣泛。電子探針和掃描電鏡都是用計算機控制分析過程和進行數據處理,并可進行彩色圖像處理和圖像分析工作,所以是一種現代化的大型綜合分析儀。都是用聚焦得很細的電子束照射被檢測的試樣表面,用X射線能譜儀或波譜儀,測量電子與試樣相互作用所產生的特征X射線的波長與強度,從而對微小區域所含元素進行定性或定量分析,并可以用二次電子或背散射電子等信息進行形貌觀察。
CUBE臺式掃描電鏡樣品制備:
1.佩戴無粉手套,使用專用鑷子把丁型樣品臺放置在制樣臺上(嚴禁在樣品杯中直接制備樣品,以免污染樣品杯?。?。
2.剪取導電膠并將其一面粘于丁型樣品臺上,之后將樣品粘于導電膠的另一面(導電膠與樣品嚴禁超出樣品臺)。
3.若樣品為塊體或片狀,將待觀測的表面朝上,把樣品粘附在導電膠上。若要觀察樣品的截面,則須使用飛納專用的截面樣品臺,將導電膠貼在樣品臺的截面上,與樣品臺上表面恰好呈90度垂直,再把樣品粘附在導電膠上,確保觀察的立面朝正上方。
4.若樣品為粉末狀,用藥勺或牙簽取少量粉末,將其分散地灑在導電膠上,用專用鑷子夾住樣品臺,在桌面上輕輕磕碰,使得沒有粘住的樣品更加松散,以便后續清除。
5.若樣品為磁性塊體,須用更多的導電膠加固樣品的四周。樣品磁性要弱,而且必須為薄片,否則不好加固。塊體過小會影響加固效果,為保證加固效果滿足電鏡要求,應使用大樣品臺配合稍大的磁性塊體。磁性粉末不能直接進行測試,須濺射在一個基底上面,無法自由移動才能進行測試。